产品价格 面议
最小起订量：0 可售数量：0
在对低电阻率晶锭和晶圆进行非接触式测量方式上拥有非常重要的重复性Si | Ge | 化合物半导体 | 宽带隙 | 材料 | 金属 | 导电 | 氧化物和氮化物[ Ge | Si | SiC | InP | GaAs | GaN | InAs以及更多]
特征 ：
| 电阻率的非接触式测量和成像 | 高频涡流传感原理与集成红外温度传感器可校正样品的温度变化 |
| 灵敏度 | 基于线圈频率读数（正在申请专利）的高灵敏度，可实现准确可靠的电阻率测量，并具有高再现性和可重复性 |
| 测量时间 | 测量时间 < 3 s，测量之间时间 < 1 s |
| 测量速度 | 200 mm 晶圆/晶锭 < 30 s，9个点 |
| 多点测量及测绘显示 | 不超过9999个点 |
| 材料外形尺寸 | 平坦或略微弯曲的晶圆、晶锭、锭板、毛坯和薄膜 |
| X-Y位置分辨率 | ≥ 0.1mm |
| 边缘扣除 | 5 mm |
| 可靠性 | 模块化、紧凑的台式仪器设计，可靠性高，正常运行时间 > 99% |
| 电阻率测量的重复性 | ≤ 0.15%，基于使用ANOVA Gage R&R方法对材料系统（MSA） |
https://www.shuyunsh.com/product-200054.html
https://www.shuyunsh.com/product-item-110.html
本网页所展示的有关【低电阻率测试仪】的信息/图片/参数等由的会员【洛阳正举新材料科技有限公司 】提供，由六叉零B2B会员【洛阳正举新材料科技有限公司 】自行对信息/图片/参数等的真实性、准确性和合法性负责，本平台（本网站）仅提供展示服务，请谨慎交易，因交易而产生的法律关系及法律纠纷由您自行协商解决，本平台（本网站）对此不承担任何责任。您在本网页可以浏览【低电阻率测试仪】有关的信息/图片/价格等及提供 【低电阻率测试仪】的商家公司简介、联系方式等信息。
在您的合法权益受到侵害时，请您致电，我们将竭诚为您服务，感谢您对六叉零B2B的关注与支持！
第1年
QQ交流群
